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製品紹介

研究・開発【エレクトロニクス分野】

顕微分光膜厚計

顕微分光膜厚計

各種フィルム・ウェハ・光学材料のコーティング膜厚や多層膜を非破壊・非接触測定。
測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初心者でも簡単に光学定数解析ができるソフトウェアを搭載。


三次元計測マイクロフォーカスX線CT装置

三次元計測マイクロフォーカスX線CT装置

断層画像収集から計測・解析まで1システムで完結。

業界最高レベルの解像度を誇るX線マイクロCTシリーズ!! 
金属材料はもとより、従来のX線マイクロCTでは困難とされてきた
軽元素微細複合材の非破壊解析に威力を発揮します。

スピンコーター MS-B100

スピンコーター MS-B100

超コンパクトボディーに機能を凝縮、簡単に膜厚作業が行えます。
研究者一人に1台のワンサイズ、ハイパフォーマンスモデルです。
ICP質量分析装置

ICP質量分析装置

3つの測定モードでスペクトル干渉除去、究極の検出下限値測定
信頼性の高いダイナミックリアクションセル
セル内に四重極を搭載し反応ガス起因の副生成物を抑制
分析対象元素を別の質量数に移動させて測定(クラスター法)
完全自動X線光電子分光装置  K-Alpha

完全自動X線光電子分光装置 K-Alpha

クラスターイオン銃(GCIB)搭載の表面分析装置
測定、解析、アライメント、キャリブレーションの完璧な自動化を達成。
オプトデジタルマイクロスコープ DSX500

オプトデジタルマイクロスコープ DSX500

DSX500は13倍の光学ズームを搭載した次世代工業顕微鏡の電動スタンダードモデルです。これまでの顕微鏡を越え容易な操作性とデジタル顕微鏡を凌駕するゆるぎない信頼性で、どなたにでも簡単に最適な結果を提供します。
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