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製品紹介

その他【化学分野】

X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph 5120


メーカー マイクロメリティックスジャパン合同会社
型式 SediGraph III 5120
新しい X線透過式沈降法粒度分布測定装置
セディメンテーション技術であらゆる大きさの粒子を 測定
粒子形状にこだわらず、抜群の再現性、 高い正確性を実現します

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特徴
●X 線(波長1.25A)の採用によりサブミクロンまでを精密に測定
●最短わずか3分の高速測定
●コンピュータ制御により全自動測定
●0.1μm から300μmまでのワイドレンジ測定
●水以外に各種の溶剤を使用可能
●プロセスコントロール・チャートの出力が可能
●各種分析レポートの出力が可能
●マルチタスク及びリアルタイムソフトウェアを搭載
●コンパクト設計
●オートサンプラーとの接続による自動測定が可能
仕様
【測定範囲】
0.1~300μm 球体径

【接続部材料】
ステンレス、テフロンアルミ合金、ニッケルめっきアルミ、ナイロン、ポリプロピレン、ポリスチレン、Tygon® とPharmed® チューブ類、タングステンカーバイド、Ertalyte®、Viton® ブナNとエポキシ

【サンプル量】
50 mL の分散したサンプル - 正確な濃度は必要ないです。

【分散媒】
サンプルセル材料と調和し、X線にも吸収性のない液体です(典型的な液体は、水、グリコール、鉱油、SediSperse分散媒、アルコールなどです)

【電源】
AC 85~264V、47/63Hz、450VA

【利用環境】
使用温度:10℃~45℃ 保管温度:-10℃~55℃
湿 度:20~80% 露点なし

【その他】
ISO 9001 およびCE は認定済

【外寸・重量】
52cm(H)50.5cm(W)58cm(D)、43kg

【コントロールシステム(最低スペック)】
CPU:Pentium 333 MHz 以上
OS:Windows XP Professional
RAMメモリ: 128 MB以上
ハードディスク空きスペース: 1GB
ディスプレイ解像度:800 x 600 以上
CD ROMドライバ:1台
RS232:1ポート
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