三次元計測マイクロフォーカスX線CT装置

三次元計測マイクロフォーカスX線CT装置の画像です

断層画像収集から計測・解析まで1システムで完結。

業界最高レベルの解像度を誇るX線マイクロCTです。
金属材料はもとより、従来のX線マイクロCTでは困難とされてきた軽元素微細複合材の非破壊解析に威力を発揮します。

  • メーカー
    ヤマト科学
  • 型式
    TDM1000-IS

特徴

  • 機種ラインアップ 最高分解能500nmのサブミクロンスケールからラインアップ。
  • 高い解像度・広いダイナミックレンジ 空間分解能:1mmから75mmまでの試料の全体撮影および部分拡大が可能。コントラスト(階調)分解能:金属から 軽元素複合素材まで鮮明な画像化が可能。
  • 高い寸法精度 高精度標準器で試料走査空間座標を校正。
  • 高速処理 独自のRawデータ収集&画像再構成アルゴリズムにより業界最速レベルの処理能力。
  • 立体画像と断面画像を同じフレームに表示する新機能により、試料の観察部位と画像上の位置対比が一目瞭然。  

その他

三次元計測マイクロフォーカスX線CT装置

●数ミクロン(μm)以内の微小焦点(マイクロフォーカス)から放射されたX線はコーン状に拡がりながら試料を透過する。
●試料の投影データは、(X線管の焦点~検出器間距離)÷(X線管の焦点~試料管距離)の幾何学倍率で検出器(イメージインテンシファイア、フラットパネル、X線CCD等)に収集される。
●収集された投影データは、A/D変換器を介して、主演算制御部CPUに送られる。
●主演算制御部CPUの処理によって透視画像、二次元CT画像、三次元CAT画像およびMPR画像が得られる。また特殊画像処理が必要な場合は、オプションの多機能計測・解析システムによって各種計測・解析を行うことができる。

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