X線透過式沈降法粒度分布測定装置
新しい X線透過式沈降法粒度分布測定装置
セディメンテーション技術であらゆる大きさの粒子を 測定
粒子形状にこだわらず、抜群の再現性、 高い正確性を実現します
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- メーカー
- マイクロメリティックスジャパン合同会社
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- 型式
- SediGraph III 5125
特徴
- X 線（波長1.25A）の採用によりサブミクロンまでを精密に測定
- 最短わずか３分の高速測定
- コンピュータ制御により全自動測定
- 0.1μm から300μmまでのワイドレンジ測定
- 水以外に各種の溶剤を使用可能
- プロセスコントロール・チャートの出力が可能
- 各種分析レポートの出力が可能
- マルチタスク及びリアルタイムソフトウェアを搭載
- コンパクト設計
- オートサンプラーとの接続による自動測定が可能
仕様
【測定範囲】
0.1～300μm 球体径
【接続部材料】
ステンレス、テフロンアルミ合金、ニッケルめっきアルミ、ナイロン、ポリプロピレン、ポリスチレン、Tygon® とPharmed® チューブ類、タングステンカーバイド、Ertalyte®、Viton® ブナNとエポキシ
【サンプル量】
50 mL の分散したサンプル - 正確な濃度は必要ないです。
【分散媒】
サンプルセル材料と調和し、X線にも吸収性のない液体です(典型的な液体は、水、グリコール、鉱油、SediSperse分散媒、アルコールなどです)
【電源】
AC 85～264V、47/63Hz、450VA
【利用環境】
使用温度:10℃～45℃ 保管温度:-10℃～55℃
湿 度:20～80% 露点なし
【その他】
ISO 9001 およびCE は認定済
【外寸・重量】
52cm(H)50.5cm(W)58cm(D)、43kg
【コントロールシステム(最低スペック)】
CPU:Pentium 333 MHz 以上
OS:Windows XP Professional
RAMメモリ: 128 MB以上
ハードディスク空きスペース: 1GB
ディスプレイ解像度:800 x 600 以上
CD ROMドライバ：1台
RS232:1ポート
