蛍光X線分析装置 ZSX PrimusⅡ

蛍光X線分析装置 ZSX PrimusⅡの画像です

高精度分析を実現した上面照射タイプの走査型蛍光X線装置
新型分光結晶で超軽元素であるホウ素が2倍の感度アップを実現
X線管はデュアルターゲットより選択可能
CCDカメラを搭載すれば試料画像上で分析位置指定やマッピング測定可能

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  • メーカー
    株式会社リガク
  • 型式
    ZSX PrimusⅡ

特徴

  • New SQXソフトウェアの搭載
  • 新分光結晶の開発によりB、C等の超軽元素の高感度化を実現
  • 100μmのマッピング位置分解能
  • 有害金属などの環境分析がさらに簡便に
  • 省エネルギー、省スペース設計
  • r測定ポイントによるX線強度変化なし

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