SFG分光システム 非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体)の分子振動解析が可能固体、液体、気体のあらゆる表面・界面に対応 詳細はこちら・・・ メーカー EKSPLA 型式 EKSPLA Ⅱ 特徴 その他 特徴 表面・界面の分子振動を解析 (構造・配向)各種界面の測定可能(固体-気体、固体-液体、液体-気体、液体-液体界面)非破壊、非接触測定高感度検出:サブモノレイヤの計測可能埋没界面を含む多様な界面、表面を計測可 その他